FilmTek 2000德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀
德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀基于非接觸式光學(xué)技術(shù)，集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置，內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法，可快速、無損、高精度同步測定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實現(xiàn)折射率分辨率高達(dá)2×10??，測量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電子、先*封裝及硅光子學(xué)等領(lǐng)域，為薄膜表征提供精準(zhǔn)可靠的解決方案。
更新時間：2026-03-16 訪問量：65 型號：FilmTek 2000
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