BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S
BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S
原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學(xué)分析能力相結(jié)合的新技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)使用原子力顯微鏡的針尖來(lái)局部檢測(cè)樣品因紅外輻射的局部吸收而產(chǎn)生的熱膨脹信號(hào)，突破了傳統(tǒng)紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
更新時(shí)間：2026-02-03 訪問(wèn)量：114 型號(hào)：
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