Analysis TechInc.成立于1983年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測試的國際設計，制造公司。創始人JohnW.Sofia是美國麻省理工的博士，并且是提出焊點可靠性，熱阻分析和熱導率理論的專家。發表了很多關于熱陽測試于分析，熱導率及焊點可靠性方面的論文。

美國ANATECH瞬斷監測儀 特點：

閾值電阻范圍：100到5000ohms，用戶可調節。

最小事件持續時間：200ns

通道探測電流：小于1.2MA

系統可同時使用64、128、192和256個通道

RS232C串口用于將數據傳輸到個人電腦（線包括在內）

規格參數：

閾值電阻范圍：100到4000ohms (low)；300到5000ohms(high)

通道電流源最大默認值：0.6volts, 9.8volts(high)

最大通道敏感電流：1.2mA maximum

典型閾值電阻公差：±4%

最大閾值電阻公差：±10%

典型事件持續敏感度：200nS

最小持續時間檢測公差：±10%

電源電壓：100/115/220 VAC 50/60Hz

美國ANATECH瞬斷監測儀 應用場景

電子制造：在電子產品的生產過程中，用于檢測電路板、電子元件等在制造過程中可能出現的瞬斷問題，確保產品質量。

通信領域：對通信線路和設備進行監測，及時發現并定位通信過程中的瞬斷故障，保障通信的穩定性和可靠性。

航空航天與汽車電子：在這些對可靠性要求*高的領域，用于監測電子系統的瞬斷情況，預防因瞬斷導致的系統故障和安全事故。